microscope.one
Оборудование для лабораторий.
115230, г. Москва, Хлебозаводский проезд, д. 7 стр. 9, этаж/помещение 5/XII комната/офис 8/43
+7 499 1131623
Заказать звонок
О компании
  • О компании
  • Реквизиты
Каталог продукции
  • Прямые микроскопы
    Прямые микроскопы
  • Инвертированные микроскопы
    Инвертированные микроскопы
  • Стереомикроскопы
    Стереомикроскопы
  • Камеры
    Камеры
  • Лазерные и сканирующие микроскопы
    Лазерные и сканирующие микроскопы
  • Металлографические микроскопы
    Металлографические микроскопы
Контакты
    О компании
    О компании
    Реквизиты
    Каталог продукции
    Прямые микроскопы
    Инвертированные микроскопы
    Стереомикроскопы
    Камеры
    Лазерные и сканирующие микроскопы
    Металлографические микроскопы
    Контакты
    microscope.one
    О компании
    • О компании
    • Реквизиты
    Каталог продукции
    • Прямые микроскопы
      Прямые микроскопы
    • Инвертированные микроскопы
      Инвертированные микроскопы
    • Стереомикроскопы
      Стереомикроскопы
    • Камеры
      Камеры
    • Лазерные и сканирующие микроскопы
      Лазерные и сканирующие микроскопы
    • Металлографические микроскопы
      Металлографические микроскопы
    Контакты
      microscope.one
      • О компании
        • Назад
        • О компании
        • О компании
        • Реквизиты
      • Каталог продукции
        • Назад
        • Каталог продукции
        • Прямые микроскопы
        • Инвертированные микроскопы
        • Стереомикроскопы
        • Камеры
        • Лазерные и сканирующие микроскопы
        • Металлографические микроскопы
      • Контакты
      • +7 499 1131623
      115230, г. Москва, Хлебозаводский проезд, д. 7 стр. 9, этаж/помещение 5/XII комната/офис 8/43
      i@microscope.one
      • Facebook
      • Вконтакте
      • Twitter
      • Instagram
      • Telegram
      • YouTube
      • Одноклассники
      • Главная
      • Продукты
      • Прямые микроскопы
      • LNZ UMLC

      LNZ UMLC

      Под заказ
      LNZ UMLC – инспекционный микроскоп для исследования кремниевых пластин и фотошаблонов. Оснащен большим предметным столом для работы в проходящем и отраженном свете, поляризацией, ДИК контрастом. Поле зрения окуляров до FN26.

      Заказать товар
      Задать вопрос
      • LNZ UMLC

      LNZ UMLC – инспекционный микроскоп для исследования кремниевых пластин и фотошаблонов. Оснащен большим предметным столом для работы в проходящем и отраженном свете, поляризацией, ДИК контрастом. Поле зрения окуляров до FN25.Микроскоп LNZ UMLC оснащается план-полу апохроматическими объективами, обеспечивающими разрешение до 0,2 мкм при увеличении 100х, столиками для кремниевых пластин до 6” с диапазоном перемещения 158×158 мм по XY, с рукояткой для быстрого и высокоточного перемещения.

      Эргономика

      Эргономическое расположение инструментов фокусировки, настройки интенсивности света и ручки перемещения столика, позволяют оператору максимально сосредоточится на изучении объектов, а тринокулярный тубус, наклоненный под углом 25 градусов позволяет сидеть за микроскопом с прямой спиной.

      Оптические решения

      Тринокулярный тубус с разделением светового потока 100/0-0/100 между камерой и окулярами с полем зрения до FN25. Позволяет синхронизировать по фокусу изображение на камере и в окулярах не теряя при этом интенсивность на призмах деления светового потока. Поток переключается, на камере не приходится завышать значения светочувствительности.
      Высококачественные металлографические планахроматические или план-полу апохроматические объективы для работы в светлом/темном поле обладают повышенным рабочим расстоянием и четким изображением по всему полю зрения.

      Объективы с увеличенным рабочим отрезком позволяют наблюдать декорпусированные объекты, а также кристаллы распаянные на корпус.

      Штатив с низким центром тяжести, устойчивый к вибрациям.

      Штатив микроскопа LNZ UMLC позволяет достигнуть неподвижность оптической системы относительно объекта исследования, благодаря жесткому корпусу с низким центром тяжести.

      Источники света, методики исследования

      Микроскоп LNZ UMLC оснащен галогенным осветителем 12V/100W с регулировкой интенсивности света, переключателем между светлым и темным полем для отраженного света и светодиодной подсветкой для работы с фотошаблонами в проходящем свете.

      С функцией наблюдения объектов в темном поле, а также поляризационной методикой исследования и ДИК контрастом, оператор может визуализировать царапины, неметаллические включения, трещины и другие дефекты поверхности образца. ДИК призма позволяет проводить визуальный контроль с рельефным контрастом на увеличении 100х, 200х и 500х. Призма универсальная для трех объективов.



      Поделиться
      Назад к списку
      • Прямые микроскопы
      • Инвертированные микроскопы
      • Стереомикроскопы
      • Камеры
      • Лазерные и сканирующие микроскопы
      • Металлографические микроскопы
      Нужна консультация?
      Подробно расскажем о сроках и стоимости услуг
      Задать вопрос
      Наши контакты

      +7 499 1131623
      Заказать звонок
      115230, г. Москва, Хлебозаводский проезд, д. 7 стр. 9, этаж/помещение 5/XII комната/офис 8/43
      i@microscope.one
      Компания
      О компании
      Реквизиты
      Новости и акции
      Контакты
      Каталог микроскопов
      Вертикальные Микроскопы
      Инвертированные микроскопы
      Лазерные сканирующие микроскопы
      Микроскопы с макро-зумом
      Микроскопы с суперразрешением
      Решения на основе систем
      Стереомикроскопы
      Промышленные микроскопы
      Дополнительное оборудование
      Оборудование для клеточной культуры
      Программное обеспечение
      Оптика и аксессуары
      Камеры
      OEM компоненты
      © 2023 Все права защищены.