microscope.one
Оборудование для лабораторий.
105005, г. Москва, муниципальный округ Басманный, ул. Радио, д. 14, стр. 1, помещ. 28П
+7 499 1131623
Заказать звонок
О компании
  • О компании
  • Реквизиты
Каталог продукции
  • Микроскопы Olympus
    Микроскопы Olympus
  • Микроскопы Zeiss
    Микроскопы Zeiss
  • Микроскопы Leica
    Микроскопы Leica
  • Микроскопы Nikon
    Микроскопы Nikon
  • Микроскопы LNZ
  • Микроскопы Nexcope
    Микроскопы Nexcope
  • Прямые микроскопы
    Прямые микроскопы
  • Инвертированные микроскопы
    Инвертированные микроскопы
  • Стереомикроскопы
    Стереомикроскопы
  • Камеры для микроскопов
    Камеры для микроскопов
  • Лазерные и сканирующие микроскопы
    Лазерные и сканирующие микроскопы
  • Металлографические микроскопы
    Металлографические микроскопы
Контакты
    О компании
    О компании
    Реквизиты
    Каталог продукции
    Микроскопы Olympus
    Микроскопы Zeiss
    Микроскопы Leica
    Микроскопы Nikon
    Микроскопы LNZ
    Микроскопы Nexcope
    Прямые микроскопы
    Инвертированные микроскопы
    Стереомикроскопы
    Камеры для микроскопов
    Лазерные и сканирующие микроскопы
    Металлографические микроскопы
    Контакты
    microscope.one
    О компании
    • О компании
    • Реквизиты
    Каталог продукции
    • Микроскопы Olympus
      Микроскопы Olympus
    • Микроскопы Zeiss
      Микроскопы Zeiss
    • Микроскопы Leica
      Микроскопы Leica
    • Микроскопы Nikon
      Микроскопы Nikon
    • Микроскопы LNZ
    • Микроскопы Nexcope
      Микроскопы Nexcope
    • Прямые микроскопы
      Прямые микроскопы
    • Инвертированные микроскопы
      Инвертированные микроскопы
    • Стереомикроскопы
      Стереомикроскопы
    • Камеры для микроскопов
      Камеры для микроскопов
    • Лазерные и сканирующие микроскопы
      Лазерные и сканирующие микроскопы
    • Металлографические микроскопы
      Металлографические микроскопы
    Контакты
      microscope.one
      • О компании
        • Назад
        • О компании
        • О компании
        • Реквизиты
      • Каталог продукции
        • Назад
        • Каталог продукции
        • Микроскопы Olympus
        • Микроскопы Zeiss
        • Микроскопы Leica
        • Микроскопы Nikon
        • Микроскопы LNZ
        • Микроскопы Nexcope
        • Прямые микроскопы
        • Инвертированные микроскопы
        • Стереомикроскопы
        • Камеры для микроскопов
        • Лазерные и сканирующие микроскопы
        • Металлографические микроскопы
      • Контакты
      • +7 499 1131623
      105005, г. Москва, муниципальный округ Басманный, ул. Радио, д. 14, стр. 1, помещ. 28П
      i@microscope.one
      • Facebook
      • Вконтакте
      • Twitter
      • Instagram
      • Telegram
      • YouTube
      • Одноклассники
      • Главная
      • Продукты
      • Лазерные и сканирующие микроскопы
      • Nikon A1/А1R HD25

      Nikon A1/А1R HD25

      Под заказ
      Конфокальный микроскоп Nikon A1/А1R HD25

      Заказать товар
      Задать вопрос
      • Nikon A1/А1R HD25
      Конфокальный микроскоп Nikon А1 HD25 позволяет захватывать изображения с полем зрения 25 мм, что почти вдвое превышает площадь обычных конфокальных точечных сканеров. Захват изображений больших образцов, таких как ткани, органы и живые модельные организмы, требует как расширения наблюдаемой области препарата, так и увеличения скорости захвата изображения. Конфокальный микроскоп A1 HD25 / A1R HD25 имеет наибольшее поле зрения в мире (25 мм), что позволяет пользователям расширять пределы научных исследований.


      Большое поле зрения  микроскопа A1 HD25 / A1R HD25 позволяет уменьшить как необходимое количество кадров для сшивания большого изображения, так и время получения изображения, что обеспечивает эффективную высокопроизводительную визуализацию даже крупномасштабных образцов. Это особенно сказывается при создании 3D (XYZ) реконструкции больших препаратов.

      Комбинация высокоскоростного резонансного сканера и большого поля - это идеальная платформа для скрининга с высоким разрешением, которая позволяет значительно сократить время, необходимое для анализа большого количества образцов при различных условиях съемки.

      Высокая скорость получения изображений до 720 кадров в секунду в сочетании с большим полем зрения значительно увеличивает производительность микроскопа. При такой скорости сканирования уменьшается время экспозиции образца возбуждающим светом, что сводит к минимуму фототоксичность и выгорание.


        A1 HD25 A1R HD25
      Порты ввода/вывода сканера 1 входной порт для лазерного модуля
      2 выходных порта для стандартного, спектрального или опционного детектора (для FCS/FCCS/FLIM)
      Лазеры Модуль LU-N3 Лазеры 405 нм, 488 нм, 561 нм; встроенный AOTF. Нельзя использовать со спектральным детектором A1-DUS
      Модуль LU-N4/N4S Лазеры 405 нм, 488 нм, 561 нм, 640 нм; встроенный AOTF
      * LU-N4 не может использоваться со спектральным детектором A1-DUS
      Модуль LU-NV Совместимые лазеры: 405 нм, 445 нм, 458 нм, 488 нм, 514 нм, 532 нм, 561 нм, 594 нм, 640 нм, 647 нм; встроенный AOTF (до 8 лазеров одновременно)
      Стандартный детектор Диапазон детекции 400-750 нм
      Детектор 4-х канальный детектор A1-DU4-2: 4 ФЭУ с мультищелочными фотокатодами
      4-х канальный детектор GaAsP A1-DUG-2: 2 GaAsP ФЭУ + 2 с мультищелочными фотокатодами
      Кубы фильтров 6 кубов, обычно используемых для турели флуоресцентного микроскопа, монтируются в каждое из трех колес фильтров детектора.
      Рекомендуемые длины волн: 450/50, 482/35, 515/30, 525/50, 540/30, 550/49, 585/65, 595/50, 700/75
      Детектор проходящего света (опционально) Диапазон детекции 485-650 нм
      Детектор 1 ФЭУ с мультищелочным фотокатодом
      Поле сканирования Ti2-E: квадрат, вписанный в круг Ø25 мм
      Ni-E/FN1: квадрат, вписанный в круг Ø18 мм
      Глубина изображения (бит) 4096 уровней интенсивности серого (12 бит)
      Сканер Стандартный режим сканирования Скане гальванический x2
      Разрешение: макс. 4096 x 4096 пикселей
      Скорость сканирования:
      Стандартный режим: 1,4 кадра в секунду (512 x 512 пикселей, bi-direction, 0,72-кратный зум), 2 кадра в секунду (512 x 512 пикселей, bi-direction, 1-кратный зум)
      Быстрый режим: 10 кадров в секунду (512 x 512 пикселей, bi-direction, 8-кратный зум), 200 кадров в секунду (512 x 16 пикселей, bi-direction, 8-кратный зум)
      Зум: 0,72-1000x, непрерывная регулировка
      Режим сканирования: X-Y, X-T, X-Z, XY-вращение, Free line, Line-Z
      Высокоскоростной режим сканирования - Резонансный сканер (ось X, резонансная частота 7,8 кГц), гальванический (ось Y)
      Разрешение: макс. 1024 x 1024 пикселей
      Скорость сканирования: 15 кадров в секунду (1024 x 1024 пикс.), 30 в сек. (512 x 512 пикселей), 60 в сек. (256 x 256 пикселей), 720 кадров в секунду (512 x 16 пикс.), 7200 строк в сек. (линейная скорость)
      Зум: 0.72x, 0.82x, 0.9x, 1x, 1.2x, 1.5x, 1.75x, 2x, 2.4x, 3x, 4x, 5x, 6x, 7x, 8x
      Режим сканирования: X-Y, X-T, X-Z
      Дихроичные зеркала Метод малого угла падения
      Количество позиций: 8
      Стандартный фильтр: 405/488/561/640, BS20/80
      Дополнительные фильтры: 405/488, 405/488/561, 405/488/543/640, 457/514
      Пинхол 12-256 мкм, перестраиваемый
      Спектральный детектор (опционально) Спектральный детектор A1-DUS Количество каналов: 32
      Диапазон детекции: 400 - 750 нм
      Скорость получения спектрального изображения: 4 кадра в секунду (256 x 256 пикселей)
      Максимальное разрешение: 2048 x 2048 (спектральный режим / режим виртуального фильтра)
      Спектральное разрешение: 2,5 / 6,0 / 10,0 нм, настройка с шагом 0,25 нм
      Совместим только с гальваническим сканером
      Спектральный детектор A1-DUVB-2 Количество каналов: 1 GaAsP ФЭУ с переменным диапазоном детекции + 1 дополнительный GaAsP ФЭУ (A1-DUVB-OP) с пользовательским дихроичным зеркалом и барьерным фильтром
      Диапазон детекции: 400 - 720 нм, самый узкий: 10 нм, самый широкий: 320 нм
      Максимальное разрешение: 4096 x 4096 (режим CB / режим VB)
      Спектральное разрешение: 10 нм, настройка с шагом 1 нм
      Совместим с гальвано- и резонансным сканерами
      Шаг по Z Ti2-E: 0.01 мкм, FN1: 0.05 мкм, Ni-E: 0.025 мкм
      Совместимые микроскопы Инвертированный микроскоп ECLIPSE Ti2-E,
      Прямой микроскоп с фиксированным столиком ECLIPSE FN1,
      Прямой микроскоп ECLIPSE Ni-E (конфигурация с фокусировкой столиком, конфигурация с фокусировкой револьвером объективов)
      Дополнительные модули Моторизация XYZ Моторизованный столик XY (для Ti2-E / Ni-E), Высокоскоростной пьезо Z-столик (для Ti2-E), Высокоскоростная пьезосистема Z-позиционирования для револьвера объективов (для FN1 / Ni-E)
      Модуль фотостимуляции (для Ti2-E) Гальванический сканер XY (источник света: лазерный блок LU-N3 / N4)
      Модуль DMD (источник света: светодиодный осветитель C-LEDFI Epi-FL, лазерный блок LU-N3 / N4)
      Форма стимуляции: ROI / линия / точка
      Режим стимуляции: последовательный, синхронный
      Программное обеспечение Захват и анализ Основное программное обеспечение: NIS-Elements C
      Дополнительное программное обеспечение для получения высокого разрешения: NIS-Elements C-ER
      Формат изображений JP2, JPG, TIFF, BMP, GIF, PNG, ND2, JFF, JTF, AVI, ICS/IDS
      Приложения FRAP, FLIP, FRET (опция), фотоактивация, трехмерное изображение в режиме time-lapse, захват из нескольких точек в режиме time-lapse, колокализация


      Поделиться
      Назад к списку
      • Микроскопы Olympus
      • Микроскопы Zeiss
      • Микроскопы Leica
      • Микроскопы Nikon
      • Микроскопы LNZ
      • Микроскопы Nexcope
      • Прямые микроскопы
      • Инвертированные микроскопы
      • Стереомикроскопы
      • Камеры для микроскопов
      • Лазерные и сканирующие микроскопы
      • Металлографические микроскопы
      Нужна консультация?
      Подробно расскажем о сроках и стоимости услуг
      Задать вопрос
      Наши контакты

      +7 499 1131623
      Заказать звонок
      105005, г. Москва, муниципальный округ Басманный, ул. Радио, д. 14, стр. 1, помещ. 28П
      i@microscope.one
      Компания
      О компании
      Реквизиты
      Новости и акции
      Контакты
      Каталог микроскопов
      Вертикальные Микроскопы
      Инвертированные микроскопы
      Лазерные сканирующие микроскопы
      Микроскопы с макро-зумом
      Микроскопы с суперразрешением
      Решения на основе систем
      Стереомикроскопы
      Промышленные микроскопы
      Дополнительное оборудование
      Оборудование для клеточной культуры
      Программное обеспечение
      Оптика и аксессуары
      Камеры
      OEM компоненты
      © 2025 Все права защищены.